test pattern generation中文是什么意思

test pattern 【電視】測試圖。
generation n. 1.代〔約30年〕，世代，時代；同時代的人。 2. ...
automatic test pattern generation atpg; 自動測試模式產(chǎn)生; 自動產(chǎn)生測試圖案
generation automatic test pattern 自動化測試模式產(chǎn)生
test pattern generation program 測試碼模式生成程序; 測試模式生成程序
test pattern generation system 測試碼模式生成系統(tǒng)
automatic test pattern generation (atpg) 自動測試模式產(chǎn)生
automatic test pattern generation system 自動測試碼產(chǎn)生系統(tǒng); 自動測試圖形產(chǎn)生系統(tǒng)
pattern generation 方向圖的形成; 模式生成; 圖形生成
test generation 測試生成
algorithmic pattern generation system 算法圖形生成系統(tǒng)
laser pattern generation 雷射圖形產(chǎn)生器
maskless pattern generation 無掩模圖像生成
pattern-generation machine 圖形發(fā)生機
pattern test 點圖測驗
test-pattern 試驗模型
automatic test generation 自動測試產(chǎn)生; 自動測試生成
automatic test generation (atg) 自動測試產(chǎn)生
automatic test plan generation 自動測試計劃生成程序
automatic test program generation 自動測試程序生成
critical path test generation 臨界通路測試產(chǎn)生法
early generation test 早代測驗
easy test generation 容易產(chǎn)生測試
easy test generation circuit 容易產(chǎn)生測試的電路
fault test generation 故障測試生成

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The pseudorandom test pattern generation for bist
基于內(nèi)建自測試的偽隨機測試向量生成方法
Automatic test pattern generation for multi - clock digital system based on s amp; amp; cct
基于安全充分捕獲技術的多時鐘數(shù)字系統(tǒng)測試矢量生成
An automatic test pattern generation ( atpg ) algorithm for deliberately selected delay faults is presented to cope with the crosstalk - induced delay effects on longer paths
由于電路中較長的通路具有較短的松弛時間，因此容易因為串擾問題產(chǎn)生時延故障。
In this way , a simple and direct relation was build up between logical transitions and dynamic current , which makes possible iddt testing pattern generation on logical level
該方法在電路邏輯跳變與電路動態(tài)電流之間建立了一種簡單直觀的關系，使得動態(tài)電流測試產(chǎn)生能夠在邏輯級上得以實現(xiàn)。
Based on the analysis and research on fan algorithm , an iddt test pattern generation algorithm for stuck - open faults is present . in the case of ignoring hazards , for the stuck - open faults in cmos circuits , the feasibility of transient current test generation based on fan algorithm is discussed
本文采用啟發(fā)式搜索的方法，基于對fan算法的分析，在不考慮冒險的情況下對于cmos電路中的開路故障，探討了利用fan算法進行瞬態(tài)電流測試生成的可能性。

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